Dynamic Nanoscale Imaging of Beam Sensitive Materials with In Situ Fluid Stage
نویسندگان
چکیده
منابع مشابه
Experimental procedures to mitigate electron beam induced artifacts during in situ fluid imaging of nanomaterials.
Scanning transmission electron microscopy of various fluid and hydrated nanomaterial samples has revealed multiple imaging artifacts and electron beam-fluid interactions. These phenomena include growth of crystals on the fluid stage windows, repulsion of particles from the irradiated area, bubble formation, and the loss of atomic information during prolonged imaging of individual nanoparticles....
متن کاملDynamic in-situ sensing of fluid-dispersed 2D materials integrated on microfluidic Si chip
In this work, we propose a novel approach for wafer-scale integration of 2D materials on CMOS photonic chip utilising methods of synthetic chemistry and microfluidics technology. We have successfully demonstrated that this approach can be used for integration of any fluid-dispersed 2D nano-objects on silicon-on-insulator photonics platform. We demonstrate for the first time that the design of a...
متن کاملmorphology, geochemistry, mineralogy, and micromorphology of soils of hormozgan province in relation to parent materials
ویژگی های زمین شیمیایی، کانی شناسی، و میکرومورفولوژیکی خاک ها و سنگ مادر مربوطه در منطقه بین بخش های جنوبی زاگرس و خلیج فارس تا دریای عمان(استان هرمزگان، ایران) مورد بررسی قرار گرفت. هدف های این مطالعه شناسایی تغییرات در خصوصیات فیزیکی، شیمیایی، و ترکیب کانی شناسی خاک، مطالعه میکرومورفولوژی و تکامل خاک، و بررسی توزیع عنصر خاک بر اساس هوازدگی، پروسه های خاک و زمین شناسی جهت توصیف اثرات مواد مادر...
15 صفحه اولAnalysis of Beam - Sensitive Materials by Electrons and X - rays
Structural and chemical analysis by electron and x-ray beams is compared, with emphasis on organic specimens and the limitations to spatial resolution that are imposed by radiation damage.
متن کاملذخیره در منابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ژورنال
عنوان ژورنال: Microscopy and Microanalysis
سال: 2010
ISSN: 1431-9276,1435-8115
DOI: 10.1017/s143192761005381x